5. InfoForum 3D-Digitalisierung 2006
Mit großem Erfolg konnten wir am 16.11.06 unser mittlerweile 5. InfoForum 3D-Digitalisierung veranstalten - 80 Teilnehmer besuchten die Applikationsvorträge rund um das Thema 3D-Koordinatenmesstechnik im Kultur- und Kongresszentrum Rosenheim sowie die Live-Vorführungen in unseren Firmenräumen.
Im Vordergrund standen dabei die erstmalige Präsentation des neuen COMET5-Sensors mit sensationell kurzer Messzeit und höchster Datenqualität, und die Adaption des T-SCAN Laserscanners an einen Roboter zur automatisierten 3D-Datenerfassung.
Wir danken allen Teilnehmern und Referenten für die interessanten Gespräche und wertvollen Beiträge und freuen uns schon auf die nächste Veranstaltung in 2007!
Perfekte Oberflächen und dokumentierte Außenhautqualität
GESTAMP Polska und VW Nutzfahrzeuge nutzen für die Qualitätskontrolle der Caddy-Außenhautteile das optische Oberflächeninspektionssystem ABIS IIZum ersten Mal setzt ein Zulieferer für Karosserieaußenhautteile die ABIS Technologie für die Qualitätskontrolle und -dokumentation ein. In einer vorbildlichen partnerschaftlichen Lieferanten-Kunden Beziehung haben die Qualitätsverantwortlichen des Presswerks Gestamp Polska (Wrzesnia) und VW Nutzfahrzeuge (Poznan) gemeinsam die Möglichkeiten der optischen Oberflächeninspektion untersucht und dann die Beschaffung eines ABIS Offline Systems für den Einsatz direkt im Presswerk beschlossen. mehr lesen ..
Airbus NDT-Inspection Team setzt Steinbichler Shearografiesystem ISISmobile 3000 ein
Erfolgreiche Zusammenarbeit zwischen Airbus und Steinbichler Optotechnik in der zerstörungsfreien Prüfung von Verbundmaterialien mit Shearografie-TechnologieBereits seit 2003 benutzt Airbus in diversen Werken in Deutschland und Frankreich ein Shearografie System von Steinbichler Optotechnik. Das NDT-Inspektionsteam war auf der Suche nach einem zuverlässigen Werkzeug für die Airbus Qualitätssicherung und hat heute ein ISISmobile3000 System im Einsatz, welches eine Messfeldgröße mit den Abmaßen von fast DIN A3 Papiergröße besitzt. Aufgrund der hohen Auflösung des Systems (erzeugt durch die Shearografie-Methode - 30 nm out-of-plane), können Fehlstellen unabhängig von der Materialzusammensetzung des Bauteils und der Tiefe des Defektes zuverlässig erkannt werden.