7. InfoForum 3D-Digitalisierung am 13.11.08
Eine große Anzahl an Teilnehmern konnten wir am 13.11.08 zum mittlerweile 7. InfoForum 3D-Digitalisierung begrüßen.
Im Licht- und Innovationszentrum der Siteco GmbH in Traunreut wurden die neuesten Entwicklungen im Bereich der 3D-Digitalisierung vorgestellt. Anwendervorträge aus den unterschiedlichsten Industriebereichen sowie eine anschließende Betriebsführung durch die Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH mit einer Besichtigung der drei robotergestützten COMET5 Systeme im Einsatz gaben einen umfassenden Einblick in die Leistungsfähigkeit der Sensoren.
Wir danken allen Referenten und Besuchern für die interessanten Vorträge und Gespräche!
Perfekte Oberflächen und dokumentierte Außenhautqualität
GESTAMP Polska und VW Nutzfahrzeuge nutzen für die Qualitätskontrolle der Caddy-Außenhautteile das optische Oberflächeninspektionssystem ABIS IIZum ersten Mal setzt ein Zulieferer für Karosserieaußenhautteile die ABIS Technologie für die Qualitätskontrolle und -dokumentation ein. In einer vorbildlichen partnerschaftlichen Lieferanten-Kunden Beziehung haben die Qualitätsverantwortlichen des Presswerks Gestamp Polska (Wrzesnia) und VW Nutzfahrzeuge (Poznan) gemeinsam die Möglichkeiten der optischen Oberflächeninspektion untersucht und dann die Beschaffung eines ABIS Offline Systems für den Einsatz direkt im Presswerk beschlossen. mehr lesen ..
Airbus NDT-Inspection Team setzt Steinbichler Shearografiesystem ISISmobile 3000 ein
Erfolgreiche Zusammenarbeit zwischen Airbus und Steinbichler Optotechnik in der zerstörungsfreien Prüfung von Verbundmaterialien mit Shearografie-TechnologieBereits seit 2003 benutzt Airbus in diversen Werken in Deutschland und Frankreich ein Shearografie System von Steinbichler Optotechnik. Das NDT-Inspektionsteam war auf der Suche nach einem zuverlässigen Werkzeug für die Airbus Qualitätssicherung und hat heute ein ISISmobile3000 System im Einsatz, welches eine Messfeldgröße mit den Abmaßen von fast DIN A3 Papiergröße besitzt. Aufgrund der hohen Auflösung des Systems (erzeugt durch die Shearografie-Methode - 30 nm out-of-plane), können Fehlstellen unabhängig von der Materialzusammensetzung des Bauteils und der Tiefe des Defektes zuverlässig erkannt werden.