ABIS II Release 6.10

Die rechtzeitige Detektion „unsichtbarer“ Fehler für maximale Oberflächenqualität im Produktionsprozess.

Das neue Software Release 6.10 der Auswerte- und Visualisierungssoftware ABIS II ist ab sofort verfügbar.
Im Vergleich zur Version 6.0 verfügt das neue Release über die Möglichkeit selbst kleinste Einschnürungen an Bauteilen zu erkennen und diese in der Auswertung auch darzustellen. Das Erkennen von Einschnürungen ist ein höchst wichtiges Kriterium im Prozess der Materialumformung und bekommt insbesondere bei sicherheitsrelevanten Bauteilen eine besondere Bedeutung, da es sich bei einer Einschnürung immer um eine lokale Materialschwächung handelt, die oftmals die Vorstufe zur Bildung von Rissen darstellt.

Die Oberflächenqualität eines Produktes - speziell in der Automobilbranche - stellt ein wichtiges Kriterium für den Kunden dar, das u.a. stark in Zusammenhang mit der Qualität des Gesamtfahrzeuges in Verbindung gebracht wird. Ein Großteil der Fehler, die im Produktionsprozess entstehen können, sind im frühen Stadium der Herstellung „unsichtbar“ - erst nach späteren Bearbeitungsschritten wie der Lackierung treten diese minimalen Oberflächendefekte jedoch optisch in Erscheinung und sind nur mit kostspieligen Korrekturmaßnahmen zu beheben. Um eine hochwertige Oberfläche unter dem Gesichtspunkt der Kostenoptimierung zu erreichen, muss ein großes Spektrum an Fehlerarten erkannt werden. Dabei ist die sichere und rechtzeitige Detektion sowie eine objektive Bewertung bzw. Klassifikation von Dellen, Beulen, Einfallstellen, Welligkeiten, Einschnürungen, Rissen, etc. erforderlich, da die Kosten zur Fehlerbehebung mit dem Fortschritt innerhalb des Produktionszyklus (Presswerk, Rohbau, Lackierung, Montage) extrem ansteigen. So stellt vor allem die Nachbearbeitung von Fehlstellen, die sich prozessübergreifend fortpflanzen, einen hohen Personal- und Zeitfaktor dar, der die Wirtschaftlichkeit des Herstellungsprozesses erheblich beeinflusst.

Mit ABIS II – dem optischen Sensorsystem der Firma Steinbichler, das in unterschiedlichen Ausbaustufen und Anlagenkonzepten eingesetzt werden kann - werden auf dem Bauteil sowohl 3D-Fehler (z.B. Dellen, Beulen, Einfallstellen, Welligkeiten, Einschnürungen, Risse) als auch kontrastsensitive Fehler (z.B. Kratzer, Schmutz, Klebereste) mithilfe einer Erweiterung durch die neue Kontrastsensorik schnell, sicher und hochgenau erfasst.
Unabhängig von Offline- oder Inline-Betrieb erkennt das Messsystem sämtliche relevante Fehlertypen, die mit einer hohen Auflösung sicher und schnell detektiert und ausgewertet werden.
Zusätzlich zum Messreport kann auf Wunsch das Qualitätsbild einer Oberfläche dargestellt werden, welches das Bauteil im virtuell abgezogenen Zustand zeigt.

Die Software von ABIS II ermöglicht zudem die individuelle Eingabe von Fehlermerkmalen und Gravitätseinteilungen, die auf Erfahrungswerten der Auditoren basieren. So kann die Erfahrung der Qualitätsprüfer direkt in die Klassifikations- und Toleranzkriterien des Systems übernommen werden, die sich zudem je nach Produktionsstand anpassen lassen. Das neue Release ABIS II V 6.10 kann durch seine speziellen Algorithmen nicht nur Einschnürungen, sondern auch nahezu das komplette Spektrum der lackrelevanten Oberflächenfehlern Prozesssicher erkennen und somit signifikant zur Qualitätsverbesserung während des Umformprozesses beitragen.
Im Zuge der Release V 6.10 wurden weitere Entwicklungen in nahezu allen Bereichen vorgenommen, die außerdem zu einer deutlichen Steigerung der Verarbeitungsgeschwindigkeit beitragen.