Für alle Anwender von Leica T-Probes ist die Ergänzung mit dem neuen PROBEscanner von Steinbichler eine außerordentlich kostengünstige und effiziente Scanlösung zur Vermessung großvolumiger Objekte.
Die Konzeption des Linienscanners mit integriertem Controller sowie intelligente Features gewährleisten einen besonders effizienten Messablauf; mit dem PROBEscanner steht somit eine leistungsfähige Ergänzung zur Verfügung, die sowohl ökonomische als auch technische Vorteile vereint.
Durch das große Messvolumen und die Möglichkeit, Detailscans an verschiedensten Stellen großer Bauteile von der selben Trackerposition aus zu erfassen, wird ein besonders komfortables und zeitsparendes Arbeiten ermöglicht. Auch an schwer zugänglichen Stellen ist die Datenaufnahme dank des großen Messabstands problemlos möglich.
Der Scanner verfügt über eine hohe Scanrate, dadurch kann der Sensor sehr schnell über das Objekt bewegt werden ohne an Detailgenauigkeit zu verlieren - ein weiterer Zeitgewinn für den Anwender.
Die Plug-and-Play T-Probe Schnittstelle sorgt für eine außerordentlich schnelle Adaption des Scanners - innerhalb von nur wenigen Minuten kann das T-Probe System zu einer echten Scan-Lösung erweitert werden.
Ein einzigartiger Rotationsadapter (von Leica Geosystems zum Patent angemeldet) erlaubt ein Verschwenken der Scanlinie um +/- 60°, während die T-Probe auf den Tracker ausgerichtet bleibt. So können Details einfach und schnell komplett erfasst werden.
Die zum Scanner gehörige Software PROBEscan ist von der T-Scan Collect Software abgeleitet und besitzt einen nahezu identischen Funktionsumfang.
