PulsESPI

産業環境下で励起された検査パーツに関する減衰およびダイナミックプロセスの検査用に、シュタインビヒラーはPulsESPIシステムを開発しました。このシステムは、従来のパルスホログラフィと、電子スペックルパターン干渉法のそれぞれの長所を一体化したものです。

PulsESPIカメラは、ダブルパルスだけでなくトリプルパルスの記録にも適しています。特別考案されたトリガーシステムが、PulsESPIカメラと被検査物照明用のルビーレーザーを制御します。数ナノ秒という極短い記録時間により、PulsESPIシステムは、建物の低周波振動や温度差によるシュリーレン（光学的ムラ）などの撹乱要素に対して無反応です。

参照光は光ファイバーケーブルで測定ヘッドに伝送されます。これにより各種の検査要求に適合しやすく、非常に柔軟なシステムとなっています。被検査物の照明光は、高いパルスエネルギーを顧慮して目下のところ従来の反射鏡システムです。

特殊な構造や高干渉縞密度のパーツでも、確実に解析が行われます。PulsESPIシステムは既に車両のブレーキやボディに関する調査で定評があります。